CCF上海高速大芯片测试产业分论坛（CCF Chip 2024技术论坛）成功举办

2024年7月19-21日，由中国计算机学会主办的第二届中国计算机学会芯片大会在上海成功召开，其中高速大芯片测试产业论坛由CCF上海与上海磐测信息技术有限公司联合承办，CCF上海分部主席/复旦大学韩伟力教授和CCF上海委员/上海磐测信息技术有限公司CEO吕俊担任论坛主席，邀请了国内外知名GPU芯片厂商的Fellow和高速大芯片测试领域的技术专家为大家带来了一场非常专业的产业技术论坛，高速大芯片功能测试与验证是确保芯片质量和可靠性的重要手段，也是提高芯片性能的关键，本场分论坛旨在讨论和分享高速大芯片性能优化策略的技术解决方案。

为了能更直观地体现芯片性能验证的完整流程，我们在现场搭建了PCIe5.0高速互联芯片信号质量的实测验证环境，为大家演示了PCI SIG针对PCIe5.0 TX/RX一致性测试的完整流程,这也成为了该分论坛的一大亮点，吸引了国内外各高速互联芯片企业的参会代表以及各高校老师和同学一百余位，并得到了一致的好评和认可。

第二届中国计算机学会芯片大会由中国计算机学会主办，CCF体系结构专委、集成电路设计专委、容错计算专委、计算机工程与工艺专委、CCF上海分部承办，复旦大学、上海交通大学、上海理工大学、上海科技大学、华东师范大学、同济大学和上海处理器技术创新中心协办。本次大会在芯片产业集中的上海成功举办具有重要意义，大会集中展示了我国在自主可控芯片技术领域的最新成果，推动了国产芯片产业的发展和创新。

分论坛结束，CCF上海分部主席韩伟力教授为每位讲者授予感谢牌并合影。